根据自身业务状况、发展需求及整体审计工作需要,综合考虑公司经营管理实际,仕净科技拟聘任山东舜天信诚为公司2025年度财务报告及内部控制审计机构。
01.
新会计事务所上任不到1月“闪辞”
上市公司延迟12天披露
按理说,更换会计事务所是资本市场的常见现象。但值得注意的是,此次辞任的苏亚金诚会计师事务所上任不到一个月。
仕净科技原本的审计机构为中审亚太会计师事务所(特殊普通合伙)。2026年1月5日,仕净科技发布了变更会计事务所的公告。
2026年1月19日,仕净科技召开2026年第一次临时股东会,审议通过了《关于拟变更会计师事务所的议案》,同意聘任苏亚金诚会计师事务所担任公司2025年度财务报告及内部控制审计机构。
更换理由为由于原拟续聘的2025年度审计机构中审亚太会计师事务所(特殊普通合伙)因其他个别审计项目正在配合证监会同步核查,审计人员和时间安排无法满足公司的要求,为避免该事项对审计进度产生影响,结合公司业务发展和审计需求等实际情况,经综合评估及审慎研究,仕净科技拟聘请苏亚金诚会计师事务所担任公司2025年度审计机构,聘期1年。
然而不到一个月的时间,更换的新会计事务所便提出了辞职。据仕净科技公告显示,2026年2月13日,仕净科技就已经收到苏亚金诚会计师事务所《辞任函》。但仕净科技延迟了12天,才于2月25日晚8点披露该事项。
虽然,中间有春节假期的影响,但在2月13日、2月24日与2月25日三个交易日,仕净科技选择了沉默。而根据相关规定上市公司应在收到审计机构辞任通知后2个交易日内发布临时公告。
《华夏时报》记者就该事件采访了上海沪紫律师事务所律师刘鹏,刘鹏表示:“仕净科技在2月13日确认审计机构辞任后,未采取停牌或立即公告措施,导致这一重大利空信息在市场交易中空转,涉及数亿元成交额。这至少在信息披露的及时性上存在瑕疵,甚至可能侵犯了投资者的知情权和公平交易权。如果后续证实这期间存在股价异常波动或内幕交易,公司及相关责任人可能需要承担相应的监管责任。”
02.
2025净利润至少亏损7.7亿元
财务总监年初辞职
苏亚金诚在《辞任函》中表示:“鉴于贵公司未能按约定时间提供审计工作所必需的资料,导致审计工作难以按预期进度开展;同时,亦未按合同约定支付相应审计费用。经本所慎重研究,现决定正式辞任贵公司2025年度财务报告审计机构,本辞任决定自本函送达贵公司之日起生效。”
从以上信息来看,苏亚金诚的辞职原因与仕净科技的财务状况有直接原因。
仕净科技2025年业绩预告显示,预计2025年全年归属净利润亏损7.7亿元至9.7亿元。
报告期内,仕净科技业绩下滑出现亏损,其主要原因为:
1、受光伏行业阶段性产能过剩影响,下游企业新厂区建设及产线升级节奏显著放缓,相关配套工程市场需求随之收缩。叠加行业竞争日趋激烈、重点项目落地进程延迟,仕净科技大型光伏废气治理系统、机电系统项目订单量大幅下滑,主营业务收入未达预期。
2、2025 年,光伏产业链产品价格持续处于低位,公司电池片产品售价被迫下调,而固定成本未能同步压降,导致毛利水平大幅回落,企业经营盈利压力加剧,全年出现亏损。此外,结合光伏行业整体市场环境的变化,仕净科技依据《企业会计准则第 8 号 —— 资产减值》及内部相关管理制度,秉持会计谨慎性原则,对部分资产开展减值测试,拟对相关资产计提资产减值准备。该事项预计将对本报告期公司经营业绩产生进一步的负面影响。
此外,还值得关注的是,仕净科技财务总监张丽华也在年初宣布辞职。2026年1月9日,仕净科技公告收到张丽华的书面辞职报告,张丽华辞职后,公司对其另有任用安排。
张丽华拥有注册会计师资格,曾任职于多家会计师事务所,2022年12月起任仕净科技财务总监,2024年年薪为65.83万元。
(朱建)


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物华弥新唯美国风战棋类在物华弥新游戏中金冠带是一个全新的器者,部分玩家不知道金冠带应该如何养成,以及是否值得抽取,下面就为大家带来物华弥新游戏中金冠带的养成攻略分享,有需要的玩家可以参考。
物华弥新金冠带养成攻略
①抽取建议:流失体系/追击体系抽本体,有条件可选择三致知。周年庆在即,2.8版本预计可攒100抽左右,建议大家至多抽空现有抽卡资源或者歪一只停手。
②简评:输出辅助兼备,本身强度尚可,不排除后续版本被打压,投资需谨慎。
③深造:破碎5500

④武器:流云鸣沙弩(对单)/铜犴弩
⑤词条:物理伤害提升,伤害提升,暴击率,暴击伤害,攻击力(%)

⑥配队推荐:
0致知时:愿望杯,青铜仙鹤,太阳神鸟,卷云金喇叭/焕彰铜车马,洛神赋图/任意生存位/(无压力可选择任意输出)--这里凑的是三远击,吃太阳神鸟的被动增加防御穿透。
3致知时:青铜仙鹤,太阳神鸟,卷云金喇叭,焕彰铜车马,洛神赋图/任意生存位/(无压力可选择任意输出轻锐)--三远击三轻锐。
如果没有打流失的器者但是却很喜欢金冠带,可以选择放入dot队(向日葵,星月夜,睡莲),本质上都是打持续伤害,可以互拐。
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| 年龄段 | 精选版(一年保费) | 尊享版(一年保费) |
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| 31岁-40岁 | 412元 | 589元 |
| 41岁-60岁 | 780元 | 1087元 |
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| 年龄段 | 年交保费 |
|---|---|
| 0-5周岁 | 222元 |
| 6-10周岁 | 115元 |
| 11-15周岁 | 68元 |
| 16-20周岁 | 73元 |
| 21-25周岁 | 92元 |
| 26-30周岁 | 126元 |
| 31-35周岁 | 189元 |
| 36-40周岁 | 265元 |
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一、先进工艺节点的检测挑战与技术缺口
当前半导体制造技术正经历关键变革:鳍式场效应晶体管逐步被全环绕栅极(GAA)纳米带晶体管替代,中段制程(MOL)因多重图形化技术的应用,堆叠复杂度持续增加。这一变革导致致命缺陷多隐匿于 3D 结构内部,传统光学检测手段难以有效识别。
同时,先进工艺节点的缺陷呈现显著的产品特异性,集中分布于特定工艺 - 版图组合的 “热点区域”,此类缺陷由芯片设计固有的版图特征引发,成为影响良率的核心因素。
行业面临的核心矛盾在于:电子束电压衬度检测是识别电学缺陷的关键技术,但传统电子束检测采用光栅扫描模式,效率远低于光学检测,无法匹配大批量生产的需求。DirectScan 技术的出现,为破解这一矛盾提供了可行路径。

二、DirectScan 核心技术架构:PointScan 的创新逻辑
DirectScan 检测方案由eProbe 电子束检测工具、FIRE GDS 版图分析平台及Exensio 大数据智能分析平台三大核心组件构成,其技术突破的核心在于PointScan 扫描技术对传统电子束检测逻辑的重构,主要体现在以下三方面:
1
设计感知驱动的靶向检测
传统电子束检测采用无差别光栅扫描,需覆盖包括介质区域在内的全部区域,且无法识别被测目标的图形特征;PointScan 技术具备非接触式电学测试特性,可精准跳转至目标器件的关键位置(如焊盘、接触点),仅对有效检测区域实施电压衬度检测,完全规避介质区域的无效扫描,实现 “按需检测”。

2
检测效率的量级提升
通过 FIRE 平台的精细化版图分析,可精准筛选出需检测的 “关键区域”,大幅缩减检测范围:
后段制程金属 3 层通孔检测:仅需扫描总可检测面积的 2.5%
中段制程栅极 - 漏极短路检测:仅需扫描总接触点的 1%
栅极残筋检测:可规避 50%-75% 的介质区域,检测面积缩减至传统方案的 10% 以下
基于上述优化,PointScan 技术的检测吞吐量可达传统单束电子束检测设备的 20-100 倍,每小时可完成数十亿个被测器件的扫描。
3
设计感知学习与属性分析能力
DirectScan 与 FIRE 平台的深度整合,可实现跨多层版图的属性提取,包括触点类型(漏极 / 栅极)、晶体管阈值电压、极性、与扩散区隔离槽的距离等关键参数。
eProbe 输出的 KLARF格式数据含专属属性识别码,可与版图特征精准匹配,工程师可直接计算特定属性或属性组合对应的缺陷率,快速定位高风险晶体管类型与版图设计方案,为工艺优化提供数据支撑。
三、高难度场景的应用突破
PointScan 技术的低电荷沉积特性,使其在传统电子束检测难以覆盖的场景中实现突破:
背侧供电网络(BSPDN)晶圆检测
键合晶圆形成的绝缘层会阻碍电荷传导,导致传统电子束检测出现电荷累积、电子束偏折与失焦问题;PointScan 技术大幅降低单位面积电荷沉积量,有效缓解上述问题,已完成实际应用验证。
3D DRAM检测
3D DRAM 的结构特性同样易引发电荷累积,此前检测难度较高,DirectScan 技术的应用使该类器件的精准检测成为可能。
DRAM 阵列短路检测
独有的可控 “充电 - 检测” 功能,可在指定位置施加电荷后跳转至目标区域采集电压衬度信号,使特定岛状节点呈现高亮状态,清晰识别与浮空相邻触点的短路问题,该功能为传统光栅扫描技术所不具备。
四、行业落地实践与全流程应用
自 2022 年初起,eProbe 检测系统已在多家先进逻辑芯片制造工厂落地,目前两套设备投入大批量生产,第三套设备处于产能爬坡阶段,应用场景覆盖半导体制造全流程:
先进逻辑芯片制造
中段制程:GAA 栅极 - 漏极短路、栅极接触孔开路、栅极外延层 / 硅化物层开路检测
后段制程:M0 层、1X 层、2X 层系统性接触孔开路与金属布线短路检测
背侧供电网络:电源通孔、源极 / 漏极通孔接触孔开路与短路检测
随机逻辑电路漏电情况评估
先进 DRAM 制造(2024-2025 年)
外围电路:栅极 - 栅极残筋短路、栅极 - 漏极短路、字线 - 字线短路与开路检测及缺陷定位
存储阵列:基于可控 “充电 - 检测” 技术的存储节点短路检测
技术总结
在半导体制程向更精密 3D 架构演进的背景下,检测技术的创新成为保障良率的关键。DirectScan 方案通过 PointScan 靶向扫描技术、设计感知分析能力与产品特异性缺陷学习功能的融合,在保留电子束检测高灵敏度的基础上,实现了检测吞吐量的量级提升,同时破解了高难度场景的检测难题。
该技术不仅解决了先进工艺节点下缺陷“难识别、难检测” 的问题,更推动半导体检测从 “缺陷识别” 向 “工艺优化赋能” 升级,为下一代半导体制造提供了核心技术支撑和全新路径。
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